Конакова Р.В., Кордош П., Тхорик Ю.А. - Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов. [1986, DjVu, RUS]

Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов.
Год выпуска: 1986
Автор: Конакова Р.В., Кордош П., Тхорик Ю.А.
Жанр: Электроника
Язык: Русский
Издательство: Наукова думка
ISBN: Нет
Формат: DjVu
Качество: Отсканированные страницы
Количество страниц: 188
Описание: В монографии систематизированы и обобщены результаты разработок методов прогнозирования надежности полупроводниковых лавинных диодов и исследований механизмов их деградации. Авторы существенно опираются на собственные исследования и разработки в этой области. Проанализированы различные механизмы деградации полупроводниковых лавинных диодов с р — п-переходом, гетеропереходом, барьером Шоттки. Рассмотрены пути повышения их надежности. Для облегчения понимания процессов деградации лавинных диодов приведено краткое изложение физических основ лавинного размножения и результатов экспериментального изучения параметров, характеризующих процесс ударной ионизации в полупроводниках.
Доп. информация: Для научных работников и инженеров, связанных с исследованием и применением лавинных диодов, а также студентов вузов и аспирантов.
Из предисловия:
Требования к надежности радиоэлектронных приборов, устройств и систем ужесточаются с каждым годом. Надежность устройства определяется прежде всего надежностью составляющих его элементов. Повышение надежности и долговечности может быть достигнуто различными путями. Во-первых, совершенствованием методов конструирования и технологии изготовления полупроводниковых элементов. Во-вторых, контролированием параметров приборов, диагностикой их поведения при различных внешних воздействиях, отбором элементов в соответствии с техническими условиями. Наконец, в настоящее время все большее значение приобретает прогнозирование надежности дискретных элементов, основанное на различных физических и технических принципах и позволяющее своевременно забраковывать потенциально ненадежные приборы.
Различным аспектам проблемы надежности полупроводниковых приборов посвящено большое количество публикаций в периодической научно-технической печати, изданы монографии, учебники, справочники по этому вопросу. Однако они быстро устаревают в связи с бурным развитием физики и техники надежности, появлением новых методов оценки и диагностики долговечности приборов, разработкой новых технических решений и контрольно-измерительной аппаратуры. В частности, в монографической литературе не нашли пока отражения неразрушающие методы прогнозирования отказов и надежности отдельных типов полупроводниковых приборов, разработка которых началась в настоящее время.